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掃描電鏡SEM測試中噴金儀的作用分析

  • 發布日期:2023-10-19      瀏覽次數:1237
    • 掃描電鏡SEM測試中噴金儀的作用分析

      掃描電鏡幾乎可以對所有類型的樣品進行圖像處理,陶瓷、金屬、合金、半導體、聚合物、生物樣品等。然而,某些特定類型的樣品更具有挑戰性,并且需要同學們進行額外的樣品制備,以便借助掃描電鏡收集高質量圖片。這些額外的步驟包括在樣品中表面濺射一個額外的導電薄層材料,如金、銀、鉑或鉻等。

      市面上任何一款電鏡都無法噴金。對樣品噴金需要一種專門的設備——離子濺射儀。

      image.png

      MSP-1S

      該設備專用于貴金屬薄膜鍍膜,用于SEM觀察。這是一種用貴金屬涂覆 SEM 樣品以防止充電并提高二次電子產生效率的裝置。除了使用磁控管靶電極進行低壓放電外,還將樣品臺制成浮動式,以減少電子束流入對樣品造成的損壞。操作簡單,按一下按鈕即可,沒有任何技巧。它很小,不占用太多空間。它放在辦公桌的一角會很有用。
      用途
      這是用于SEM樣品的金屬鍍膜裝置。

      主要產品規格

      物品規格
      電源AC100V(單相100V 10A)3P帶地插頭1口
      旋轉泵10L/min(裝置內置)
      設備尺寸寬200mm x 深350mm x 高345mm
      (設備重量:14.6Kg)
      樣品室尺寸內徑120mm x 高65mm(硬玻璃)
      樣品臺尺寸直徑50mm(浮動法)
      電極-樣品臺距離35mm(使用輔助樣品臺時為25mm)
      靶電極內置永磁體的磁控管型靶電極
      目標金屬規格Φ51mm,厚度0.1mm
      Pt、Pt-Pd、Au、Au-Pd、Ag


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